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  • 网络前段制程(Front end of the line);前道;前段工艺过程

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前段制程(Front end of the line)

  前段制程(FEOL) 最常见的EBI点是接点 (contact),无论是蚀刻还是W CMP。由浅结工艺发展所推动,对钴化物 (CoSi2) 或镍化物 (…

前道

前道FEOL)会影响晶体管电性能,如关闭电流IOFF,漏极饱和电流Idsat阈值电压Vt,功耗,甚至使晶体管失效。在后道(…

前段工艺过程

  在执行晶圆的前段工艺过程(FEOL)和后段工艺过程(BEOL)时,晶圆需要经过无数次的清洗步骤,清洗的次数取决于晶圆的设计和 …

前道工艺

例如:一个应用于前道工艺FEOL)的测量程序,通常能够以埃量级的精度检测硅片内以及不同芯片间多个STI结构残余的二 …

前道互连

在前一种情况下,前道互连(FEOL)型TSV是在IC布线工艺开始之前制作的,而后道互连(BEOL)型TSV则是在金属布线工艺过程 …

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Critical FEOL Metrology for Dimension Control in Advanced Semiconductor Manufacturing. 先进半导体制造前道工序中进行尺寸控制所需的关键量测技术。
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The fabrication process includes etching of a deep cavity in the substrate after all the FEOL steps are completed; 制造过程包含在所有前段处理(FEOL)步骤完成后在基板上蚀刻深凹洞;
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Wafer Backside Metallic Decontamination Control for FEOL Processing FEOL工艺中防止晶背金属污染的控制
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FEOL wet processes for advanced design rules 先进设计规则下FEOL湿法处理工艺