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  • 网络日本电子;日本电子株式会社;日本电子公司(Japan Electron Optics Laboratory)

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日本电子

日本电子(JEOL)JEM22010FEF型高分辨率透射电镜在200kV工作电压下对分散沉积在非晶的微栅孔上的样品进行晶粒大小测 …

日本电子株式会社

3.4.2日本电子株式会社jeol):主要型号有JES-FR30, JES-FA 。技术参数 谐振腔:圆柱腔TE011 Q值:18000 磁场控制范 …

日本电子公司(Japan Electron Optics Laboratory)

该电镜是日本电子公司JEOL)研制的面向21世纪的最新产品。另一台为大倾转角的LaB6型透射电子显微镜(JEM-2010), …

日本电子制品

常用实验仪器名称中英文对照表... ... 半导体用设备 ANELVA 日本电子制品 Jeol 振动试验装置 Vibration Test Systems ...

微量分析仪

电子探针微量分析仪JEOL)(JXA-8100) 日本电子株式会社广州事务所 ¥0.0000元 留言 WD/ED联合微量分析仪(电子探针,…

日本精工

品牌展示_实验室中国 ... 新三思( SANS) 日本精工( JEOL) 英麟( YOUNGLIN) ...

透射电子显微镜

我对你们的透射电子显微镜(JEOL)(JEM-1010)感兴趣,请尽快给我报价!*姓名: 职务: *E-mail: 网址:

日本电子光学公司

SEM分析: 采用日本电子光学公司( JEOL) JSM5600 LM电子显微镜。样品观察前作喷金处 理。

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The precipitation process was observed by optical metallography and JEOL JEM-2010 electron microscope (TEM). 应用金相显微镜及JEOLJEM—2010型高分辨电镜观察了沉淀析出过程。