CP与CPK有什么区别

cpk计算公式及解释如下：1、cpk计算公式是：CPK=Cp*(1-|Ca|)。2、cpk解释：过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求（规格范围等）的程度。也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。运算方法1、过程能力指数运算有5种计算方法：2、直方图（两种绘图方法）。3、散布图（直线回归和曲线回归）（5种）。4、计算剩余标准差；排列图（自动检索和排序）。5、波动图（单边控制规范，也可以是双边控制规范）。

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常状况下，质量特性值分布的总体标准差（σ）是未知的，所以应采用样本标准差（s）来代替。扩展资料应用1 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。参考资料来源：百度百科—cpk

CPK（过程能力指数）是一种统计工具，用于评估一个过程是否能够产生符合规范要求的产品。CPK计算公式如下：CPK=min((USL-X)/(3σ),(X-LSL)/(3σ))其中，USL代表上限规格限，LSL代表下限规格限，X代表过程平均值，σ代表过程的标准偏差。CPK值的计算结果可以帮助我们判断过程的稳定性和能力。当CPK值大于1时，表示过程能够产生大部分符合规格要求的产品，过程能力较好。当CPK值小于1时，说明过程存在一定的问题，可能会产生一定比例的不合格产品。

cpk计算公式：CPK=Cp*(1-|Ca|)。CPK是“Combined Public Key”的缩写，中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙。是制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。Ca(Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量实际平均值与规格中心值之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp(Capability of Precision)：制程精密度；在衡量规格公差宽度与制程变异宽度之比例。过程能力指数过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求（规格范围等）的程度。也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。

cpk计算公式：CPK=Cp*（1-|Ca|）。过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK，也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态新块）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料联慎、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。cpk的用途过程能力指数的值越大，表明产品的离散程度相对于技术标准的公差范围越小，因而过程能力就越高；过程能力指数的值越小，表明产品的离散程度相对公差范围越大，因而过程能力就越低。因此，可以从过程能力指数的数值大小来判断能力的高低。从经济和质量两方面的要求来看，过程能力指数值并非越大越好，而应在一个适当的范围内取值。制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。

CPK的计算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。CPK是“CombinedPublicKey”的缩写，中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。特性ECC特性存储量与密钥规模ECC遵从IEEE标准。组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵，分割密钥序列(Separating-keysequence)由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成，密钥对用(ssk,SPK)标记。标识密钥(Identity-key)由标识产生，用(isk,IPK)标记。组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成，用(csk,CPK)标记。复合特性在椭圆曲线密码ECC中，任意多对公、私钥，其私钥之和与公钥之和构成新的公、私钥对。如果，私钥之和为：(r1+r2+…+rm)modn=r则对应公钥之和为：R1+R2+…+Rm=R(点加)那么，r和R刚好形成新的公、私钥对。因为，R=R1+R2+…+Rm=r1G+r2G+…+rmG=(r1+r2+…+rm)G=rG分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙意义：制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。计算公式CPK=Cp*（1-|Ca|）Ca(CapabilityofAccuracy)：制程准确度；在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp(CapabilityofPrecision)：制程精密度；在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，只有上限和中心值，Cpu=|USL-ˉx|/3σ或只有下限和中心值，Cpl=|ˉx-LSL|/3σ；对於双边规格：Cp=(USL-LSL)/6σ=T/6σ参考资料百度百科—CPK：https://baike.baidu.com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T=规格上限-规格下限;规格中心值U=(规格上限+规格下限)依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度:Ca值 (X为所有取样数据的平均值)依据公式:Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度:Cp值依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数:Cpk值Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。CPK:Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。CPK值越大表示品质越佳。Cpk--过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk的中文定义为:制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。

2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别用Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式： ， 计算出制程准确度：Ca值 9. 依据公式：Cp = ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

计算公式：Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)。1.33和1.67等是根据计算结果而来的。min即取小的那个值，TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差；μ为过程统计量的分布均值。指数意义：1、Cpk范围1.67-2过大，可适当放宽检验。2、Cpk范围1.33-1.67充分，继续保持。3、Cpk范围1-1.33正常，但接近1危险。4、Cpk范围小于1，需改进，严重时停产需整顿。扩展资料计算Cpk的注意事项：1、分析时，应注意对数据的正确分层，否则可能会发生误判。2、对公差界限进行分析时，需要观察是否有异常点或者离群点出现。3、当数据较多时，可能会重复数据出现，对重复数据要进行区分，并加以分析。4、一般情况下，至少应取25组以上的数据进行分析。5、通常情况下，横坐标用来表示原因或者自变量，纵坐标用来表示效果或者因变量。参考资料来源：百度百科=cpk

计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T=规格上限-规格下限;规格中心值U=(规格上限+规格下限)依据公式:Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度:Ca值 (X为所有取样数据的平均值)依据公式:Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度:Cp值依据公式:Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数:Cpk值Cpk的评级标准:(可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策)A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。CPK:Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。CPK值越大表示品质越佳。Cpk--过程能力指数CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s]Cpk的中文定义为:制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。

CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。 当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。 CPK值越大表示品质越佳。 CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——过程能力指数 CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 9. 依据公式：Cp =T/6 ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

是的，模具1出48个对应A1.A2---A48,A1.A2---A48出32样件数据，才可以做对A1.A2---A48分别做cpk

CPK：Complex Process Capability index 是现代企业用于表示制成能力的指标。 CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） Cpk——过程能力指数 CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差＝规格上限－规格下限；规格中心值＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 9. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。PPK： Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能。 （该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序） CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限： CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限。 公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。” 所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求≥1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求≥1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制。

1、CPK、UCL、LCL计算公式如下图所示：2、CPK在信息安全领域是“Combined Public Key”的缩写，其中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥，为认证系统的芯片化、代理化创造了条件。3、纵向转换损耗 LCL (Longitudinal to differential Conversion Loss)在一个一或双端口网络中，由引导线上的纵向共模信号在网络终端上产生的横向（对称或差模）信号的量度。单位是dB。4、组合矩阵分为私钥矩阵和公钥矩阵。矩阵大小均为hx32，用（ri，j）或（Ri，j）表示，i=1..h，j=1..32。r是小于n的随机数。私钥矩阵（ri，j）用于私钥的生成，是秘密变量。公钥矩阵由私钥矩阵派生，即 ri，j G= (xi，j，yi，j) =Ri，j，是公开变量。5、分割密钥由YS序列中的w33，w34指示，从分割密钥序列中选取，并只以公钥形式存在，分割公钥序列SPKi可以文件形式公布，或记入CPK-card。

cpk=cp*（1-|ca|）

计算公式及结果如下：Cpu=(USL-Average)/3σ =(0.253-0.251)/(3*0.002)=0.33Cpl=(Average-LSL)/3σ =(0.251-0.247)/(3*0.002)=0.67Cp=(USL-LSL)/6σ =(0.253-0.247)/(6*0.002) =0.5Cpk=Min(Cpu,Cpl) =Min(0.67,0.33)=0.33CPK：Complex Process Capability index 的缩写，制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 是现代企业用于表示制成能力的指标。

以上几点疑义：PPK和CPK的样本取样：PPK取样样本≥100，且样本容量和频次不同，所涉及的计算选取的参数也不同，PPK的取样，是长时间的，且可以跨批次取样，一般适用于量产前期质量策划阶段第四阶段实施并确定，PPK的计算，最终为依据经前几个阶段验证的工装设备、计量仪表等确定下的整个过程形成现场的质量控制界限，即SPC的控制范围（其控制范围不等同于控制对象的公差值），而SPC控制图大家都应该知道，八大异常判定，且SPC是起到提前预防的作用的。很多实际运用中，会发现，量产前期形成的SPC控制界限，某些控制要素会比要求的公差值小，这正是因为前期工装设备，以及检验精度、能力等处于优先水平，随着量产时间的增加，这些因素会逐步降低（工装模、检、夹等状态的变化），而此时我们在SPC控制图中显示的异常时，产品还是处于合格范围之内，但是，显示出了过程生产要素的变化，因此PPK是长期数据收集，而不是短期!CPK样本取样：一般原则最低是≥25，从要求的取样区别来看，很明显就知道是单批次性的，专门针对在过程要素同一时期（即较小的系统误差）对产品质量稳定性的评价，他的变化，体现的是量产过程中，每批次产品质量的稳定性，不同采样时期的CPK进行比较分析，从波动趋势来观察，再结合不同批次生产时的过程要素的变化，来分析造成过程不稳定的因素。

可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2 这里就要用到你的20了，规格中心值U=20；知识网站: http://www.gztaiyou.com/jian/index.asp?id8002依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值)依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。建议你用SPC软件计算CPK,这样可给自己减少很多工作量.只需要把我们的数据输入进去,设置好上下规格限,CPK值可自动计算出来. 注：以上来自网络，并非原创，仅供参考。

CPK的计算公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)。其中：Ca ：制程准确度。Cp :制程精密度。Cpk的意义：制程水平的量化反映。用途工序能力是表示生产过程客观存在着分散的一个参数。但是这个参数能否满足产品的技术要求，仅从它本身还难以看出。因此，还需要另一个参数来反映工序能力满足产品技术要求（公差、规格等质量标准）的程度。这个参数就叫做工序能力指数，它是技术要求和工序能力的比值。

CPCp：过程能力，仅适用于统计稳定过程，是过程在受控状态下的实际加工能力，不考虑过程的偏移，是过程固有变差（仅由于普通原因产生的变差）的 6σ范围，σ通常用 R-bar/d2或者s-bar/c4来估计。所以过程能力是用过程在受控状态下短期数据计算的。因此又将过程能力称为“短期过程能力”，实际中常将短期省略。这个指数只是针对双边公差而计算的，对于单边公差没有意义。计算公式为:CP=(USL-LSL)/ 6σ.CPKCPK：过程能力指数，是在过程有偏移情况下的过程能力，前提是要过程稳定且数据是正态分布，而且数据应该在 25组以上（建议最少不要低于 20组，数据组越少风险越大），只考虑过程受普通原因的影响。因为过程只受到普通原因变差影响是理想状态下的，从长期来说过程总会受到各种特殊原因的影响，所以又被称为短期过程能力，也叫潜在过程能力。CPK通过 CPU或 CPL的最小值来计算，计算公式:CPU=(USL-X-bar)/3σ和 CPL=(X-bar-LSL)/3σ.

可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2 这里就要用到你的20了，规格中心值U=20；依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值)依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。

CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。 当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。 CPK值越大表示品质越佳。 Cpk——过程能力指数 CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] Cpk应用讲议 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2； 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值) 9. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值 10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。 CPK与PPK都是表示制程能力的参数，现代计算中多采用Minitab软件来实现，方便快捷。

信息安全领域的定义：CPK是“Combined Public Key”的缩写，即中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。工程领域的定义：CPK是“Process Capability Index” 的缩写。CPK的中文定义为：制程能力指数，是现代企业用于表示制程能力的指标，也即某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。计算公式CPK=Cp*（1-|Ca|）Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp (Capability of Precision)：制程精密度；在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；对於双边规格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ注意: 计算Cpk时，取样数据至少应有20组数据，而且数据要具有一定代表性。

减小样本的标准差，实际测得的数据尽量与指标数据吻合，不要有太大差别。因为不知道客户提供的公式和具体的参数，计算过程不能详细的给出。按照CPK的计算原理，减小标准差让数据尽可能的吻合理论数据，CPK的值可以大于1.33的。Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常状况下，质量特性值分布的总体标准差（σ）是未知的，所以应采用样本标准差（s）来代替。扩展资料：CPK指数意义1.67-2过大，可适当放宽检验。1.33-1.67充分，继续保持。1-1.33正常，但接近1危险。小于1不充分，需改进，严重时停产需整顿。参考资料来源：搜狗百科-CPK（过程能力指数）

ppk,cpk,mk三者的区别及计算:太友SPC、首先我们先说明Pp、Cp两者的定义及公式Cp（Capability Indies of Process）：稳定过程的能力指数，定义为容差宽度除以过程能力，不考虑过程有无偏移，一般表达式为： Pp（Performance Indies of Process）：过程性能指数，定义为不考虑过程有无偏移时，容差范围除以过程性能，一般表达式为：（该指数仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序）CPU：稳定过程的上限能力指数，定义为容差范围上限除以实际过程分布宽度上限，一般表达式为：CPL：稳定过程的下限能力指数，定义为容差范围下限除以实际过程分布宽度下限，一般表达式为：2、现在我们来阐述Cpk、Ppk的含义Cpk：这是考虑到过程中心的能力（修正）指数，定义为CPU与CPL的最小值。它等于过程均值与最近的规范界限之间的差除以过程总分布宽度的一半。即：Ppk：这是考虑到过程中心的性能（修正）指数，定义为： 或 的最小值。即：其实，公式中的K是定义分布中心μ与公差中心M的偏离度，μ与M的偏离为ε=| M-μ| 3、公式中标准差的不同含义①在Cp、Cpk中，计算的是稳定过程的能力，稳定过程中过程变差仅由普通原因引起，公式中的标准差可以通过控制图中的样本平均极差估计得出。因此，Cp、Cpk一般与控制图一起使用，首先利用控制图判断过程是否受控，如果过程不受控，要采取措施改善过程，使过程处于受控状态。确保过程受控后，再计算Cp、Cpk。②由于普通和特殊两种原因所造成的变差，可以用样本标准差S来估计，过程性能指数的计算使用该标准差。4、几个指数的比较与说明① 无偏离的Cp表示过程加工的均匀性（稳定性），即“质量能力”，Cp越大，这质量特性的分布越“苗条”，质量能力越强；而有偏离的Cpk表示过程中心μ与公差中心M的偏离情况，Cpk越大，二者的偏离越小，也即过程中心对公差中心越“瞄准”。使过程的“质量能力”与“管理能力”二者综合的结果。Cp与Cpk的着重点不同，需要同时加以考虑。② Pp和Ppk的关系参照上面。③ 关于Cpk与Ppk的关系，这里引用QS9000中PPAP手册中的一句话：“当可能得到历史的数据或有足够的初始数据来绘制控制图时（至少100个个体样本），可以在过程稳定时计算Cpk。对于输出满足规格要求且呈可预测图形的长期不稳定过程，应该使用Ppk。”④ 另外，我曾经看到一位网友的帖子，在这里也一起提供给大家（没有征得原作者本人同意，在这里向原作者表示歉意和感谢），上面是这样写的：“所谓PPK，是进入大批量生产前，对小批生产的能力评价，一般要求≥1.67；而CPK，是进入大批量生产后，为保证批量生产下的产品的品质状况不至于下降，且为保证与小批生产具有同样的控制能力，所进行的生产能力的评价，一般要求≥1.33；一般来说，CPK需要借助PPK的控制界限来作控制

制程能力指数 制程准确度Ca 制程精密度Cp 制程能力Cpk 估计不良率ppm 计量值公式 统计数值 直方图 制程能力分析图 X-R管制图 XMED-R管制图 X-s管制图 X-Rm管制图 计数值公式 推移图分析 p管制图 1-p管制图 np管制图 c管制图 u管制图 dppm管制图 附录 柏拉图 抽样分配常数表 管制界限系数 综合制程能力指数Cpk： 同时考虑偏移及一致程度。 Cpk ＝ ( 1 － k ) x Cp 或 MIN {CPU,CPL} Ppk ＝ ( 1 － k ) x Pp 或 MIN {PPU,PPL} (X –μ) K ＝ |Ca| ＝ —————— (T/2) PS.制程特性定义 单边规格(设计规格)因没有规格上限或下限 没有规格下限 Cp ＝ CPU ＝ Cpk 没有规格上限 Cp ＝ CPL ＝ Cpk 评等参考 当Cpk值愈大，代表制程综合能力愈好。 等级判定：依Cpk值大小可分为五级 等级 Cpk值 处理原则 A+ 1.67 ≤ Cpk 无缺点考虑降低成本 A 1.33 ≤ Cpk ≤ 1.67 维持现状 B 1 ≤ Cpk ≤ 1.33 有缺点发生 C 0.67 ≤ Cpk ≤ 1 立即检讨改善 D Cpk ≤ 0.67 采取紧急措施，进行品质 改善，并研讨规格

计算公式及结果如下：Cpu=(USL-Average)/3σ=(0.253-0.251)/(3*0.002)=0.33Cpl=(Average-LSL)/3σ=(0.251-0.247)/(3*0.002)=0.67Cp=(USL-LSL)/6σ=(0.253-0.247)/(6*0.002)=0.5Cpk=Min(Cpu,Cpl)=Min(0.67,0.33)=0.33CPK：ComplexProcessCapabilityindex的缩写，制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。是现代企业用于表示制成能力的指标。

可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U).规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2这里就要用到你的20了，规格中心值U=20；知识网站:http://www.gztaiyou.com/jian/index.asp?id8002依据公式：Ca=(X-U)/(T/2)，计算出制程准确度：Ca值(X为所有取样数据的平均值)依据公式：Cp=T/6σ，计算出制程精密度：Cp值依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|)，计算出制程能力指数：Cpk值Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级Cpk≥2.0特优可考虑成本的降低A+级2.0＞Cpk≥1.67优应当保持之A级1.67＞Cpk≥1.33良能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B级1.33＞Cpk≥1.0一般状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为A级C级1.0＞Cpk≥0.67差制程不良较多，必须提升其能力D级0.67＞Cpk不可接受其能力太差，应考虑重新整改设计制程。建议你用SPC软件计算CPK,这样可给自己减少很多工作量.只需要把我们的数据输入进去,设置好上下规格限,CPK值可自动计算出来.注：以上来自网络，并非原创，仅供参考。

因 Cpk=Min(Cpl,Cpu)若是单边，即 Cpk=Cpl or Cpk=Cpu

一切为分，公式是CPK=（USL-X均值）/3sigma或（X均值-LSL）/3sigma，取小的那个值。如果CPK=2，按照上面公式，均值距两侧最近的那个距离是6倍的sigma，也就是6sigma水平，按照正态概率计算，绝大部分点都是落在公差线内，只有百万分之1点几的概率落在公差线外，也就是只有百万分之1点几的不良，不好吗？按照经验，长期来看会有1.5个sigma的偏离，所以通常说6sigma水平会有百万分之3.4的不良，完美吧。你查一下CPK与sigma水平还有不良率的关系表就知道其他的各个CPK水平不良率了。算法和上面都差不多。质量的东西很多都是概率相关的，有问题可以给我留言，大家共同进步。

CpK=（1-K）CP=(1-k)T/6σ

减小样本的标准差，实际测得的数据尽量与指标数据吻合，不要有太大差别。因为不知道客户提供的公式和具体的参数，计算过程不能详细的给出。按照CPK的计算原理，减小标准差让数据尽可能的吻合理论数据，CPK的值可以大于1.33的。Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常状况下，质量特性值分布的总体标准差（σ）是未知的，所以应采用样本标准差（s）来代替。扩展资料：CPK指数意义1.67-2 过大，可适当放宽检验。1.33-1.67 充分，继续保持。1-1.33 正常，但接近1危险。小于1 不充分，需改进，严重时停产需整顿。参考资料来源：百度百科-CPK（过程能力指数）

Cp=(55-45)/(6*5.08/2.3259)=0.7631Ca=[50.12-(55+45)/2]/[(55-45)/2]=0.024Cpk=Cp*(1-Ca)=0.7631*(1-0.024)=0.7448Ca： 制程准确度。 Cp： 制程精密度A＋＋级 Cpk≥2。0 特优 可考虑成本的降低A＋ 级 2。0 ＞ Cpk ≥ 1。67 优 应当保持之A 级 1。67 ＞ Cpk ≥ 1。33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级B 级 1。33 ＞ Cpk ≥ 1。0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升C 级 1。0 ＞ Cpk ≥ 0。67 差 制程不良较多，必须提升其能力D 级 0。67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程 它们之间计算，可以直接用SPC软件来自动计算就行了，无需人工去计，具体的可以去太友科技官方网站上下载视频教程，他们网站上也有个SPC软件免费下载试用版本的，可以下载下来试用下咯： http://gztaiyou.com/jian/SPCMonitor.asp

计算公式及结果如下：Cpu=(USL-Average)/3σ=(0.253-0.251)/(3*0.002)=0.33Cpl=(Average-LSL)/3σ=(0.251-0.247)/(3*0.002)=0.67Cp=(USL-LSL)/6σ=(0.253-0.247)/(6*0.002)=0.5Cpk=Min(Cpu,Cpl)=Min(0.67,0.33)=0.33CPK：ComplexProcessCapabilityindex的缩写，制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。是现代企业用于表示制成能力的指标。

cpk计算公式及解释如下：1、cpk计算公式是：CPK=Cp*(1-|Ca|)。2、cpk解释：过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求（规格范围等）的程度。也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。运算方法1、过程能力指数运算有5种计算方法：2、直方图（两种绘图方法）。3、散布图（直线回归和曲线回归）（5种）。4、计算剩余标准差；排列图（自动检索和排序）。5、波动图（单边控制规范，也可以是双边控制规范）。

CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]Cpk是指过程平均值与产品标准规格发生偏移（ε）的大小，常用客户满意的上限偏差值减去平均值和平均值减去下限偏差值中数值小的一个，再除以三倍的西格玛的结果来表示。Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）通常状况下，质量特性值分布的总体标准差（σ）是未知的，所以应采用样本标准差（s）来代替。扩展资料应用1 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。参考资料来源：百度百科—cpk

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

　　1、过程能力指数。 　　2、过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求（规格范围等）的程度。也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。 　　3、计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ] 　　4、运算方法： 　　过程能力指数运算有5种计算方法： 　　直方图（两种绘图方法）； 　　散布图（直线回归和曲线回归）（5种）； 　　计算剩余标准差；排列图（自动检索和排序）； 　　波动图（单边控制规范，也可以是双边控制规范）。

cpk计算公式是：CPK=Cp*(1-|Ca|)。分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙。是制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。Ca(Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量实际平均值与规格中心值之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp(Capability of Precision)：制程精密度；在衡量规格公差宽度与制程变异宽度之比例。过程能力指数：过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求（规格范围等）的程度。也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。

计算公式：CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ，（Mu - LSL)/3σ］过程能力指数（Process capability index）表示过程能力满足技术标准（例如规格、公差）的程度，一般记为CPK。cpk计算公式应用：1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2。5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)。6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值。7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值。

CPK的计算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。CPK是“Combined Public Key”的缩写，中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。特性ECC特性存储量与密钥规模ECC遵从IEEE标准。组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵，分割密钥序列(Separating-keysequence )由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成，密钥对用(ssk, SPK)标记。标识密钥(Identity-key)由标识产生，用(isk,IPK)标记。组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成，用(csk,CPK)标记。复合特性在椭圆曲线密码ECC中，任意多对公、私钥，其私钥之和与公钥之和构成新的公、私钥对。如果，私钥之和为：( r1 + r2 + … + rm ) mod n = r则对应公钥之和为： R1 + R2 + … + Rm= R (点加)那么，r和R刚好形成新的公、私钥对。因为，R = R1 + R2 + … + Rm =r1G + r2G +…+ rmG = (r1 +r2 +…+ rm) G = r G分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙意义：制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。计算公式CPK=Cp*（1-|Ca|）Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp (Capability of Precision)：制程精密度；在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；对於双边规格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ参考资料百度百科—CPK：https://baike.baidu.com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

单边上限时的CPK：CPK=(USL-X)/3σ单边下限时的CPK：CPK=(X-LSL)/3σ双边规格的时候，取其中的小值

计算公式CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]1、双侧规格过程能力指数双侧规格计算公式双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。2、有偏移情形有偏移情形的过程能力指数：当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，显然不合格率（如图上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度为K：这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。显然，具有：有偏移情况的过程能力指数CPKCPK≤CP扩展资料应用1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2；5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值8、Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低A+ 级 2.0 > Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级B 级 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。参考资料来源：百度百科-过程能力指数

CPK的计算公式是CPK=Cp*（1-|Ca|）。CPK是“Combined Public Key”的缩写，中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。特性ECC特性存储量与密钥规模ECC遵从IEEE标准。组合矩阵(Combining-matrix)分为私钥矩阵和公钥矩阵，分割密钥序列(Separating-keysequence )由一定数量的分割密钥(Separating-key)构成，密钥对用(ssk, SPK)标记。标识密钥(Identity-key)由标识产生，用(isk,IPK)标记。组合密钥(Combined-key)由标识密钥和分割密钥复合而成，用(csk,CPK)标记。复合特性在椭圆曲线密码ECC中，任意多对公、私钥，其私钥之和与公钥之和构成新的公、私钥对。如果，私钥之和为：( r1 + r2 + … + rm ) mod n = r则对应公钥之和为： R1 + R2 + … + Rm= R (点加)那么，r和R刚好形成新的公、私钥对。因为，R = R1 + R2 + … + Rm =r1G + r2G +…+ rmG = (r1 +r2 +…+ rm) G = r G分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙意义：制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。计算公式CPK=Cp*（1-|Ca|）Ca (Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量「实际平均值」与「规格中心值」之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp (Capability of Precision)：制程精密度；在衡量「规格公差宽度」与「制程变异宽度」之比例。对於单边规格，只有上限和中心值，Cpu = | USL-ˉx | / 3σ 或 只有下限和中心值，Cpl = | ˉx -LSL | / 3σ；对於双边规格：Cp=(USL-LSL) / 6σ=T/6σ参考资料百度百科—CPK：https://baike.baidu.com/item/CPK/4333067?fr=aladdin#4_3

cpk计算公式：CPK=Cp*(1-|Ca|)。CPK是“Combined Public Key”的缩写，中文名为组合公钥，是一种加密算法，以很小的资源，生成大规模密钥。分类：标识密钥、分割钥匙、组合钥匙。是制程水平的量化反映。制程能力指数：是一种表示制程水平高低的方便方法，其实质作用是反映制程合格率的高低。Ca(Capability of Accuracy)：制程准确度；在衡量实际平均值与规格中心值之一致性。对於单边规格，因不存在规格中心，因此不存在Ca；对於双边规格，Ca=(ˉx-U)/(T/2)。Cp(Capability of Precision)：制程精密度；在衡量规格公差宽度与制程变异宽度之比例。过程能力指数过程能力指数是指过程能力满足产品质量标准要求（规格范围等）的程度。也称工序能力指数，是指工序在一定时间里，处于控制状态（稳定状态）下的实际加工能力。它是工序固有的能力，或者说它是工序保证质量的能力。这里所指的工序，是指操作者、机器、原材料、工艺方法和生产环境等五个基本质量因素综合作用的过程，也就是产品质量的生产过程。

计算公式CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]1、双侧规格过程能力指数双侧规格计算公式双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。2、有偏移情形有偏移情形的过程能力指数：当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，显然不合格率（如图上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度为K：这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。显然，具有：有偏移情况的过程能力指数CPKCPK≤CP扩展资料应用1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2；5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值8、Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低A+ 级 2.0 > Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级B 级 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。参考资料来源：百度百科-过程能力指数

Cp： 代表数据集中度。Cpk：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。制程能力强才可能生产出质量、可靠性高的产品。既代表了数据的集中度，又代表了数据的准度。一般情况下是Cp>Cpk计算公式如下：Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 依据公式：Cp =T/6 ， 计算出制程精密度：Cp值 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值

计算公式CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]1、双侧规格过程能力指数双侧规格计算公式双侧规格情形的过程能力指数，这时，过程能力指数CP的计算公式如下：式中，T为过程统计量的技术规格的公差幅度；TU、TL分别为上、下公差界限；σ为过程统计量的总体标准差，可以在过程处于稳态时得到。2、有偏移情形有偏移情形的过程能力指数：当过程统计量的分布均值μ与公差中心M不重合（即有偏移）时，如图1所示，显然不合格率（如图上的PU）增大，也即CP值降低，故式（1）所计算的过程能力指数不能反映有偏移的实际情形，需要加以修正。定义分布的总体均值μ与公差中心M的偏移为ε=|M-μ|，μ与M的偏移度为K：这样，当μ=M（即分布中心与公差中心重合，无偏移）时，K=0，则CPK=CP；而当μ=TU或μ=TL时，K=1，CPK=0，表示过程能力由于偏移而严重不足，需要采取措施加以纠正。显然，具有：有偏移情况的过程能力指数CPKCPK≤CP扩展资料应用1、当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。2、计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。3、计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。4、首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(u). 规格公差=规格上限－规格下限；规格中心值=（规格上限+规格下限）/2；5、依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (x为所有取样数据的平均值)6、依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值7、依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值8、Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策）A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低A+ 级 2.0 > Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之A 级 1.67 > Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A+级B 级 1.33 > Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级C 级 1.0 > Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力D 级 0.67 > Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。参考资料来源：百度百科-过程能力指数

CPK：Complex Process Capability index 的缩写，是现代企业用于表示制程能力的指标。x0dx0a 制程能力是过程性能的允许最大变化范围与过程的正常偏差的比值。x0dx0a 制程能力研究在於确认这些特性符合规格的程度，以保证制程成品不符规格的不良率在要求的水准之上，作为制程持续改善的依据。x0dx0a 当我们的产品通过了GageR&R的测试之后，我们即可开始Cpk值的测试。x0dx0a CPK值越大表示品质越佳。x0dx0a CPK=min（（X-LSL/3s），（USL-X/3s）） x0dx0a Cpk——过程能力指数 x0dx0a CPK= Min[ (USL- Mu)/3s, (Mu - LSL)/3s] x0dx0a Cpk应用讲议 x0dx0a 1. Cpk的中文定义为：制程能力指数，是某个工程或制程水准的量化反应，也是工程评估的一类指标。 x0dx0a 2. 同Cpk息息相关的两个参数：Ca , Cp. x0dx0a Ca: 制程准确度。 Cp: 制程精密度。 x0dx0a 3. Cpk, Ca, Cp三者的关系： Cpk = Cp * ( 1 - ｜Ca｜)，Cpk是Ca及Cp两者的中和反应，Ca反应的是位置关系(集中趋势)，Cp反应的是散布关系(离散趋势) x0dx0a 4. 当选择制程站别Cpk来作管控时，应以成本做考量的首要因素，还有是其品质特性对后制程的影响度。 x0dx0a 5. 计算取样数据至少应有20~25组数据，方具有一定代表性。 x0dx0a 6. 计算Cpk除收集取样数据外，还应知晓该品质特性的规格上下限(USL，LSL)，才可顺利计算其值。 x0dx0a 7. 首先可用Excel的“STDEV”函数自动计算所取样数据的标准差(σ)，再计算出规格公差(T)，及规格中心值(U). 规格公差T＝规格上限－规格下限；规格中心值U＝（规格上限+规格下限）/2； x0dx0a 8. 依据公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 计算出制程准确度：Ca值 (X为所有取样数据的平均值)x0dx0a 9. 依据公式：Cp =T/6σ ， 计算出制程精密度：Cp值 x0dx0a 10. 依据公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 计算出制程能力指数：Cpk值 x0dx0a 11. Cpk的评级标准：（可据此标准对计算出之制程能力指数做相应对策） x0dx0a A++级 Cpk≥2.0 特优 可考虑成本的降低 x0dx0a A+ 级 2.0 ＞ Cpk ≥ 1.67 优 应当保持之 x0dx0a A 级 1.67 ＞ Cpk ≥ 1.33 良 能力良好，状态稳定，但应尽力提升为A＋级 x0dx0a B 级 1.33 ＞ Cpk ≥ 1.0 一般 状态一般，制程因素稍有变异即有产生不良的危险，应利用各种资源及方法将其提升为 A级 x0dx0a C 级 1.0 ＞ Cpk ≥ 0.67 差 制程不良较多，必须提升其能力 x0dx0a D 级 0.67 ＞ Cpk 不可接受 其能力太差，应考虑重新整改设计制程。