涡流涂层测厚仪如何校准呢？

X射线荧光膜厚仪是一种用于测量样品表面涂层或薄膜厚度的设备，使用X射线荧光原理进行测量。以下是X射线荧光膜厚仪的一般使用方法：准备工作：将X射线荧光膜厚仪放置在平坦的工作台上，确保仪器稳定并接通电源。校准仪器：在进行测量之前，需要使用标准样品对仪器进行校准。具体校准步骤可能因不同型号的仪器而异，但通常需要将标准样品放置在仪器上，并调整仪器设置以达到正确的测量状态。样品准备：对于需要测量涂层或薄膜厚度的样品，需要进行适当的准备。如果需要测量金属基体上的涂层厚度，需要将样品表面清洁干净，确保没有油污、氧化层或其他杂质。如果需要测量多层涂层或薄膜的厚度，需要按照样品的结构和材料特性进行适当的样品制备，如分层剥离或切割等。测量厚度：将样品放置在X射线荧光膜厚仪上，并按下测量按钮。仪器会自动进行X射线荧光测量，并显示涂层或薄膜的厚度值。数据处理：根据需要，可以将测量结果记录下来，并进行数据处理和分析。可以计算平均值、标准偏差等统计数据，以及绘制厚度分布图等。注意事项：在使用X射线荧光膜厚仪时，需要注意以下几点：* 确保仪器在稳定的平面上放置，避免振动或撞击。* 确保仪器的电源稳定，不要在电源不稳定的情况下使用。* 使用合适的样品制备方法，以确保测量结果的准确性和可靠性。* 在进行测量之前，要确保样品的表面干净和干燥。* 在使用X射线荧光膜厚仪时，要注意个人安全和保护仪器的安全。总的来说，X射线荧光膜厚仪的使用方法包括准备工作、校准仪器、样品准备、测量厚度和数据处理等步骤。在使用过程中，需要注意安全和准确性，以确保测量结果的可靠性和准确性。

高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适

这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。我们今天主要为大家介绍的是激光测厚仪和X射线测厚仪。并且为大家讲解测厚仪原理。【激光测厚仪和X射线测厚仪的区别】激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。【测厚仪原理】纸张测厚仪：比较适合4mm以下的各种比较薄的片状材料厚度的测量。超声波测厚仪：超声波测厚仪主要有主机和探头两部分组成。主机电路包括发射电路、接收电路、计数显示电路三部分，由发射电路产生的高压冲击波激励探头，产生超声发射脉冲波，脉冲波经介质介面反射后被接收电路接收，通过单片机计数处理后，经液晶显示器显示厚度数值，它主要根据声波在试样中的传播速度乘以通过试样的时间的一半而得到试样的厚度。我厂经营的HT系列超志波测厚仪，在采用国内外先进技术的基础上，运用单片机技术研制的一种低功耗低下限袖珍式的智能测量仪器，不仅有测量不同材质厚度的仪器，而且有单测钢，超薄型的，同时均可配套高温测厚探头。激光测厚仪：是一种非接触式测厚仪，两个激光位移传感器的激光对射，被测体放置在对射区域内LPM30C激光测厚原理，根据测量被测体上表面和下表面的距离，计算出被测体的厚度。激光测厚仪的基本组成是激光器、成像物镜、光电位敏接收器、信号处理机测量结果显示系统。激光束在被测物体表面上形成一个亮的光斑，成像物镜将该光斑成像到光敏接收器的光敏上，产生探测其敏感面上光斑位置的电信号。当被测物体移动时，其表面上光斑相对成像物镜的位置发生改变，相应地成像点在光敏器件上的位置也要发生变化。激光测厚仪能直接输出信号和工业计算机连接，快速处理数据和输出偏差值。激光测厚仪是用激光检测技术和防护措施，适合温度较高的物体测量厚度的要求。其检测系统具有成本低、无辐射、便于维护等优点。

涡流测厚仪是一种小型便携式仪器。用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。概述：涡流测厚仪是一种小型便携式仪器。 重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，多次通过国家技术监督部门的性能试验，获得计量器具制造许可证。 仪器的标准物质—膜厚校准箔片，由辽宁省计量院检测，附有辽宁省计量院出具的检测报告。仪器在国内铝型材、铝门窗、技术监督、工程质检等行业得到广泛应用，得到用户的信任与好评。应用范围：涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。仪器特点：膜厚校正片，膜厚校正片是仪器的计量基准。本仪器的膜厚校正片全部经过技术监督部门的检测，附有检测报告。这一点在国内外仪器中都是不多见的。它保证了仪器计量的准确性和可靠性。探头，测厚仪最容易损坏的部件是探头，本仪器对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

涡流测厚仪的功能特性1.自动校准　校准数据自动存储，重新开机后可直接测量。2.自动纠错　仅按两次键，即可排除因误操作造成的显示混乱或无显示等故障。3.数据统计　输出一组测量的平均值、zui大值、zui小值、标准偏差和测量次数等数据。4.电源控制　电池欠压提示，停用2分钟可自动断电。ED300型涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。ED300型涡流测厚仪简称为涡流测厚仪,是一种小型便携式仪器。性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，多次通过国家技术监督部门的性能试验，获得计量器具制造许可证。测量注意事项：　　1、仪器应防止剧烈震动、撞击。使用后应擦净仪器表面油污放入仪器箱内妥善保存。　　2、为了减少测量体材质对测量精度的影响。建议采用不带涂层的测量体或与测量体材质相同的标准试块作为校准用基准块。　　3、严禁敲击或碰撞探头以免影响探头性能;严禁捏住探头尾部测量。　　4、本仪器有自动关机功能如不进行任何操作大约一分钟后就自动关机。　　5、测量完毕，轻按一下电源键，关断整机电源，并在测量头的触头及基准块上涂少许油脂以防生锈。

白分百厚度仪测玛拉胶怎么看表方法:百分百厚度仪的测量范围为0-10毫米；刻度盘的读数为0.01MM；小表盘的一个刻度是0.01；大表盘的一个刻度是0.1；然后根据表盘指针的位置进行读数。测厚仪是用来测量材料和物体厚度的仪器。在工业生产中，常被用来连续或采样产品(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔等材料)的厚度。这些仪器中有利用射线、射线和射线穿透特性的放射性测厚仪；超声波频率变化的超声波测厚仪；利用涡流原理的涡流测厚仪：也有利用机械接触测量原理的测厚仪。

了克服带材不够平整或运行过程中上下波动的影响, 在带材的上、下两侧对称地设置了两个特性完全相同的涡流传感器S1、S2 。 S1、 S2与被测带材表面之间的距离分别为x1和x2。 若带材厚度不变, 则被测带材上、 下表面之间的距离总有x1+x2=常数的关系存在。两传感器的输出电压之和为 2Uo数值不变。 如果被测带材厚度改变量为Δδ, 则两传感器与带材之间的距离也改变了一个Δδ, 两传感器输出电压此时为2Uo+ΔU。ΔU经放大器放大后, 通过指示仪表电路即可指示出带材的厚度变化值。带材厚度给定值与偏差指示值的代数和原理图就是被测带材的厚度。

镀锌层测厚仪是涂层测厚仪的一种。常规涂层测厚仪分磁感应和涡流两种，高频涡流是另外一种高度的涂层测厚，价格很高。磁感应测厚仪，探头发出磁场，可以在磁性材料上形成磁性，非磁性涂层的大小，会影响这个磁性的大小，从而测量出对应的涂层厚度。涡流测厚仪，探头发出电涡流信号，可以在导电材料上形成涡流，非导电涂层的厚薄，会影响这个涡流场的大小，从而计算出对应的涂层厚度。这两种方法的价格差不多，涡流法稍高一点（一般10%左右）。磁性涂层测厚仪用量比涡流的大很多，凭直觉在10倍以上。

和磁感应测厚仪的方法一样，需要基准块和基准片，根据仪器的说明书进行校准。东方嘉仪官网有几款测厚仪的校正视频，可以参考下，方法都是一样的。

涂层测厚仪有涡流测厚原理和磁性测厚原理之分.　　影响涂层测厚仪测量的若干因素。磁性法测量厚度受基体金属性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可认为是轻微的)，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成份及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;每一种仪器都有一个临界厚度，大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响;对试件表面形状的陡变敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的;试件的曲率对测量有影响，随着曲率半径的减少明显地增大，因此，在弯曲试件的表面上测量也是不可靠的;探头会使软涂层试件变形，因此在这些试件上测不出可靠的数据;基体金属和涂层的表面粗糙度对测量有影响。 高频交流信号在探头线圈中产生电磁场，探头靠近导体时，就在其中形成涡流。探头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了探头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电涂层厚度的大小。由于这类涂层测厚仪探头专门测量非铁磁金属基体上的涂层厚度，所以通常称为非磁性探头。　　非磁性探头采用高频材料做线圈芯。与磁感应原理比较，主要区别是涂层测厚仪探头不同，信号频率不同，信号的大小、标度关系不同。采用电涡流原理的涂层测厚仪，原则上对所有导电基体上的非导电涂层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。涂层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者导电率之比至少相差3-5倍。虽然钢铁基体亦为导体，但这类任务还是采用磁性原理测量涂层厚度较为合适。　　如果基体上基体金属粗糙，还必须在未涂的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点，或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解去除涂层后，再校对仪器的零点;周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重干扰磁性测厚工作;那些妨碍探头与涂层表面紧密接触的附着物质，必须清除，在测量中，要保持压力恒定，探头与试件表面保持垂直，才能达到精确的测量。粗糙度增大，影响增大，粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同的位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。

涡流法是根据涡流原理测量导电基体上的非导电涂层的厚度，其测量数值受以下一些因素的影响：a基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。b基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。c边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。d曲率试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。e试件的变形测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上不能测出可靠的数据。f表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。g磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。h附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。i探头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。j)探头的取向测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。如果您能排除了以上原因之后数据仍然偏差较大，还有可能是涂层本身的厚度是不均匀的（涂装工艺造成），另外就是仪器质量问题了。

涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。测量厚度：0-10000um超声波测厚仪采用超声波测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度，并可以对材料的声速进行测量。可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量，监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度，也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。本仪器可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。 测量厚度：0.7-300mm若还有需要可以进入石家庄兰宇科技网站www.lanyukeji.com.cn看看。希望对你有帮助。

关于厚度的检测，其实也有多种类型，不仅仅是板材的厚度尺寸，还有管材的壁厚、线缆电缆等的绝缘层厚度、涂镀层厚度等。对于不同厚度测量仪小编就来简单的介绍一下。板材类厚度检测1、非接触式激光测厚仪采用激光测量传感器进行厚度检测，在C型架上安装相对的激光测头完成厚度的检测，可对热轧的、易形变的、辐射的等各种不易检测的板材进行检测。是在线检测设备，被广泛应用于钢板、带钢、铁板、金属板、橡胶板、塑料板、木板等各种板材的厚度检测，不能应用于有很多空隙的板材厚度检测。2、接触式测厚仪采用上下相对的直线位移传感器测量被测物的厚度尺寸。每个传感器设置1个滚轮，被测板材通过时将滚轮撑开向前运动。滚轮通过弹簧压紧与板材表面接触，从而得到板材的精确厚度。仅可用于硬质板材的厚度尺寸检测。3、射线测厚仪是一种应用于薄板高精度的检测装置，由于具有放射源，采用X射线源，已经将危害程度尽可能的降低，减少对人体的危害，如果能达到要求，还是尽可能的用激光测厚的方式替代比较好。4、涂镀层测厚仪板材的涂镀层厚度常采用超声波测厚方法，目前没有生产这一种。钢管壁厚检测关于钢管壁厚的检测是有限制要求的：管材的内径尺寸要大，一般要超过70mm；不能进行在线检测；仅能进行管端厚度尺寸的检测；检测钢管的长度范围为距管端50～500mm。如果都能满足这些条件，则可采用管端直径、壁厚测量仪进行壁厚的检测。可计算出管端的真实外径、内径及壁厚尺寸。线缆绝缘层厚度检测这种检测方式是通过两台测径仪组合起来检测的，简单的说，一台测径仪检测线芯外径，一台测径仪检测包裹绝缘层的线缆外径，通过计算即可得到绝缘层的厚度尺寸。以上为常用的测厚系统类型，包括了各种类型的厚度检测，我们也在致力于研发更多的厚度检测装置与类型，为高质量生产提供简便快速的测量方式。

涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。 磁吸力测量原理　　永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。 　　这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。 磁感应测量原理　　采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。 　　磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。 电涡流测量原理　　高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。 　　采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适

常用测厚仪有机械式测量、超声波测厚仪、磁式测厚仪、电容式测厚仪、涡流测厚仪、射线测厚仪、激光测厚仪等。那么这些测厚仪的优缺点是什么？下面小编就来简单的介绍一下测厚仪优缺点：1、机械式测量大部分机械式测厚仪都是接触式测量，其主要优点是操作简单、方便，仪器成本低，测量范围大。缺点是精度低，对被测物有一定损坏，不易实现动态测量。2、超声波测厚仪其主要优点是测量操作简单，体积小、重量轻、携带方便。缺点是对检测样式种类具有选择性，不易实现厚度自动测量和高温环境下的实时检测且精度不高，测量为接触式测量，对被测物有损伤。3、磁式测厚仪主要优点是重量轻，便于携带，灵敏度较高，有较宽的测量范围且操作简单。缺点是各干扰因素容易对磁式测厚仪的测量产生影响，且应用范围比较小。4、电容式测厚仪其主要优点是测量速度快，操作方便，可用于多种被测物测量。缺点是接触式测量，易损坏被测物，且测量容易受到外电磁场干扰，引线电容及杂散电容影响较大，同时它对被测物表面的平整性、测头和被测物接触式的保持具有较高的要求。5、涡流式测厚仪其主要优点是快捷精准、非接触式测量，不仅可以测量管材、板材等单层厚度，还可测量镀层、涂层和多层复合材料分层的厚度，测量不受被测物物理特性影响，稳定可靠。缺点是离样品近，易破坏样品，测量面积大，对一部分物体失效。6、射线式测厚仪其主要优点是测量方法简单反应快，测量准确且为非接触式测量。缺点是射线对人体有危害，因此射线测厚仪有很多保护装置，因而显得比较笨重，需加安全保护措施，机械安装对精度要求特别高，环境对射线测厚仪的影响较大，一般采用补偿措施，而这些补偿措施却增加了故障的几率，使得设备维护难度加大，标定复杂，存在重复标定问题，价格昂贵，7、激光测厚仪激光测厚仪的主要优点是可以检测高、宽、厚等多种几何量，测量对象广泛，并不局限于金属，而且是非接触式动态实时测量，可测量高温轧材。缺点是无法测量涂、镀层厚度。

测厚仪有涂层测厚仪、超声波测厚仪、电解测厚仪、超声波涂层测厚仪、薄膜测厚仪（测厚规）、X射线测厚仪等，可以从要测量的是产品的哪个部分来分类，也可以从测厚仪本身的测量原理来分，还可以从测量产品的底材是什么材料来分等等。 根据所测量产品的具体实际部分来分，测量产品的整体的，比如金属板、玻璃板等的厚度的是超声波测厚仪，这种仪器的称呼也是根据原理来命名的，只能测量一整块的厚度，而不能测量表面油漆层或镀层厚度，因为要测量的东西通常都在毫米以上，所以一般都是精确到毫米；如果是测量钢材、铝材、木材、玻璃、混泥土、塑胶等表面油漆层、电镀层等涂层的厚度的就是涂层测厚仪，这种测厚仪只能测量表面涂镀层厚度，而不能测量涂镀层下面底材的厚度，由于涂镀层比较薄，所以通常能精确到1微米甚至零点几微米。品质比较好的当数德国菲希尔、EPK、尼克斯、英国易高、牛津等，国内品牌在这两年渐渐跟上节奏，主要是在价格和售后上具有优势，比如时代、天星、果欧、兰泰等。 涂层测厚仪有的也叫膜厚仪或者膜厚计，按原理来分，有磁感应涂层测厚仪、涡流涂层测厚仪、超声波涂层测厚仪，专测涂层的，但是磁感应和涡流原理的涂层测厚仪通常只能测量金属表面涂层厚度，不能测量木料、塑胶、玻璃、混泥土等非金属的表面涂层。超声波涂层测厚仪刚好相反，只能测量非金属表面的涂层而不能测量金属表面涂层，目前市场上没有国产品牌的超声波涂层测厚仪（不要误以为是超声波测厚仪），只有美国狄夫斯高和德国EPK两家有，价格都是上万的。 某些特殊的涂层是不能用普通的涂层测厚仪来完成测量的，比如钢铁表面的镀镍层和铜铝、不锈钢表面的镀锌镀铬镀镍层，这时要选用具有破坏性的电解测厚仪来完成。 单独是测量薄膜厚度的话没必要用几千几万的测厚仪了，用测厚规也就是上面所说的薄膜测厚仪就可以了，几百块一台。 而测量多层的镀层厚度则用X射线的测厚仪了，这种仪器动辄是十几万，贵的三十多万。

薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要。薄膜的厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。目前测量薄膜的厚度的方法有在线测厚和非在线测厚在线测厚较为常见的在线测厚技术有β射线技术，X射线技术和近红外技术。β射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术。在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但β传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。X射线技术这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量多种元素构成的聚合物，信号源发射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。近红外技术近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信号源无放射性，设备维护难度相对较低。非在线测厚非在线测厚技术主要有一触式测量法和非接触式测量法两类，接触式测量法主要是机械测量法，非接触式测量法包括光学测量法，电涡流测量法、超声波测量法等。由于非在线测厚仪设备价格便宜、体积小等原因，应用领域广阔。涡流测厚仪和磁性测厚仪涡流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和电磁感应原理。专用于各种特定涂层厚度的测量，用于测量薄膜、纸张的厚度时有出现误差的可能。超声波厚度仪超声波厚度仪也多是小型便携带设备，利用超声波反射原理，可测金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波良导体的厚度。可在高温下工作，这是很多其它类型的测厚仪所不具备的，但对检测试样的种类具有选择性。光学测厚仪从测量原理上来说光学测厚仪可达到极高的测试精度，但是这类测厚仪在使用及维护上要求极高；必须远离振源；严格防尘；专业操作及维护等。使用范围较窄，仅适用于复合层数较少的复合膜。机械测厚仪机械测厚仪可以分为点接触式和面接触式两类，是一种接触式测厚方法，它与非接触式测量方法有着本质的区别——能够在进行厚度测量前给试样测量表面施加一定的压力（点接触力或面接触力），这样可以避免在使用非接触式测厚仪测量那些具有一定压缩力、表面高低不平的材料时可能出现数据波动较大的现象。所以具体要选择哪一类测厚仪设备还需根据软包装材料的种类，厂家对厚度均匀性的要求、以及设备的测试范围等因素而定。本答案源于PP论坛

1、射线式测厚仪。射线技术多用于在线测厚的设备上，对于测量物要求并不 高。但是由于在线测厚仪需要安装在薄膜生产线上，由于环境温度、大气压 变化以及生产线中出现的薄膜上下波动等情况，对射线测厚仪的要求非常高 ，所以设备的价格、后续的维护费用会相当大。对于企业来说，成本会很高 。2、机械接触式测厚仪。机械接触式测厚仪，它与非接触式测厚方法有着本 质的区别——测试时设备会给试样测量表面施加一定的压力（点接触力或面 接触力），这样可以避免在使用非接触式测厚仪测量那些具有一定压缩性、 表面高低不平的材料时可能出现数据波动较大的现象。机械接触式测厚仪采 用的是最传统、最基础的测厚方法，数据稳定可靠，对试样没有选择性。由 于这种测厚仪的测试精度主要取决于测厚传感器的精度，所以目前市面上的 机械接触式测厚仪的测试精度参差不齐。济南普创机电研发生产的PT-03测厚 仪，采用超高分辨率0.1μm的传感器，测试精度高且数据稳定性极好，设备 符合符合GB/T 24328.2等测试标准。企业需要选购非在线测厚仪的话，可以 考虑济南普创机电有限公司的测厚仪设备。3、涡流测厚仪、磁性测厚仪。涡 流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和 电磁感应原理。设备可用于各种特定涂层厚度的测量，但是用于测量薄膜、 纸张的厚度时有出现误差的可能。对于测试精度要求非常高的企业来讲，选 购时需要多加考虑，精度不够高、容易出现误差的现象，可能会给企业带来 不必要的麻烦。4、超声波测厚仪。超声波测厚仪也多是小型便携式设备，利 用超声波反射原理，可测金属、塑料、陶瓷、玻璃以及其它任何超声波良导 体的厚度。可在高温下工作，这是很多其它类型的测厚仪所不具备的，但对 检测试样的种类具有选择性。

1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.6、超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

测厚仪是测量物体厚度的仪器。需要详细咨询可以搜索武汉汉仪仪器。测厚仪分为机械测厚仪，磁性测厚仪，涡流测厚仪，超声波测厚仪，射线测厚仪，荧光测厚仪。机械式测厚仪是测量物体整体厚度的仪器。磁性测厚仪和涡流测厚仪是测量涂镀层的。超声波测厚仪是测量内部密度均匀的物体整体的厚度的仪器。射线测厚仪和荧光测厚仪是无需接触物体即可测量厚度。武汉市青山区汉仪仪器销售中心地址：友谊大道1260号

无损检测设备是工业发展必不可少的有效工具，在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平，其重要性已得到公认。无损检测设备的最大特点就是能在不损坏试件材质、结构的前提下进行检测，所以实施无损检测后，产品的检查率可以达到100%。但是，并不是所有需要测试的项目和指标都能进行无损检测，无损检测技术也有自身的局限性。某些试验只能采用破坏性试验，因此，在目前无损检测还不能代替破坏性检测。也就是说，对一个工件、材料、机器设备的评价，必须把无损检测的结果与破坏性试验的结果互相对比和配合，才能作出准确的评定。1、在线测厚仪在线测厚仪是指在测厚过程中将测量结果实时的显示给使用者或者控制系统，以便使用者或者控制系统能够及时的对异常数据作出反应，为自动化生产一个重要环节。随着二十世纪八十年代激光技术和CCD技术的发展而研制的新一代在线、非接触式的测厚仪，它是利用激光光源，光电检测和计算机工业控制技术三者相结合，实现在线测厚的应用仪器，可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点, 是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。在线测厚仪有激光在线测厚仪和涂布在线测厚仪等。　2、X射线测厚仪X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，已达到要求的轧制厚度。3、电涡流式测厚仪电涡流式测厚仪，是一种小型仪器，采用涡电流测量原理，可以方便无损地测量有色金属基体上的油漆、塑料、橡胶等涂层，或者是铝基体上的阳极氧化膜厚度等。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。4、激光测厚仪激光测厚仪一般是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更精准，不会因为磨损而损失精度。相对超声波测厚仪精度更高。相对X射线测厚仪没有辐射污染。5、实时成像实时成像，是一种X射线无损检测方法。是通过屏幕实时显示检测结果图像的方法，利用该图像对检测对象材料进行定性、定量的分析、判断和评估，从而获得检测对象材料的均匀性和一致性，或对象结构、装配、材料密度、厚度等信息，达到无损检测的目的。实时成像方法因其检测图像直观清晰、检测速度快和成本低的优势，受到业界高度的关注和日新月异地高速发展。在早期因得到的图像为模拟图像，因此称其为实时成像，也被称做工业电视。随着数字技术尤其是数字图像技术的迅猛发展，实时成像更向数字化方向发展的趋势，越来越多地被称为数字成像，二者其实表示的是同一种概念，同一种方法。6、工业内窥镜——现在市面上用的最广泛的一种工业内窥镜可用于高温、有毒、核辐射及人眼无法直接观察到的场所的检查和观察，主要用于汽车、航空发动机、管道、机械零件等，可在不需拆卸或破坏组装及设备停止运行的情况下实现无损检测，广泛应用于航空、汽车、船舶、电气、化学、电力、煤气、原子能、土木建筑等现代核心工业的各个部门。工业内窥镜还可与照相机、摄像机或电子计算机耦接，组成照相、摄像和图象处理系统，从而进行视场目标的监视、记录、贮存和图象分析。7、探伤机探伤机一般为无损探伤，探伤机专供造船、石油、化工、机械、航天、交通和建筑等工业部门检查船体、管道、高压容器、锅炉、飞机、车辆和桥梁等材料、零部件加工焊接质量，以及各种轻金属、橡胶、陶瓷等加工件的质量。8、超声波探伤超声波探伤是利用超声能透入金属材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法，当超声波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。

涂层测厚仪的选型方法：可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。1、两用型，集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪两种仪器的功能，可用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度。如：（1）钢铁上的铜、铬、锌等电镀层或油漆、涂料、搪瓷等涂层厚度。（2）铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。（3）铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。（4）铝、铜、金等箔带材及纸张、塑料膜的厚度。（5）各种钢铁及非铁金属材料上热喷涂层的厚度。仪器特点：采用双功能内置式探头，自动识别铁基或非铁基体材料，并选择相应的测量方式进行精确测量。符合人体工程学设计的双显示屏结构，可以在任何测量位置读取测量数据。采用手机菜单式功能选择方式，操作十分简便。可设定上下限值，测量结果超出或符合上下限数值时，仪器会发出相应的声音或闪烁灯提示。稳定性极高，通常不必校正便可长期使用。2、常规型。对材料表面保护、装饰形成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在有关国家和国际标准中称为覆层（coating）。覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环，是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化，我国出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确的要求。覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用最广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。厦门欣锐仪器仪表有限公司是一家多年从事进口仪器仪表设备销售的贸易公司，公司AR930涂层测厚仪采用了磁性测厚法，是一种便携式涂覆层测厚仪，它能快速无损伤、精确地进行铁磁性金属基体上的非磁性(如油漆、电渡层等)覆层厚度上的测量。被广泛地用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。

非接触测厚有几种类型：磁性/涡流法测厚仪，涂魔师非接触测厚，超声波测厚仪等等。涂魔师非接触无损测厚，主要的原理如下：涂层与底材之间的热性能差异来实现非接触无损测量涂层厚度，首先用计算机控制闪光灯对未固化的漆膜进行短暂脉冲加热。高速红外传感器记录下涂层表面随时间变化的温度，表面温度根据涂层厚度和热性能以特征动态进行衰减。利用专门开发的算法评估表面的动态温度分布情况，最后可以定量确定涂层厚度。传统金属底材测厚采用磁性/涡流法测厚仪、非金属底材测厚采用DIN EN ISO 2808标准提及到的楔形切割法、DIN 50950标准提及到的横切法或是在特定情况下使用ISO 2808标准的接触式超声波测量设备。非接触无损测厚技术-涂魔师是不限测试底材，木材、橡胶、塑料、玻璃、混凝土等底材均可高精度测出涂层膜厚;限涂层种类，油漆、粉末涂料、粘胶剂、润滑油、胶水等都适用;可测量各种颜色颜料的湿膜或干膜厚度;可适应各种不规则和外形复杂工件;实时在产线上监测膜厚;传统的测厚方法需等待膜层干燥而使工序滞后，无法在喷涂/涂布后马上得知干膜厚度；受底材种类限制，精度差;测试时需要与涂层接触，破坏涂层；无法测试曲面、弯角、小零件等复杂形状;不能在生产线上直接实时测试;

国家《汽车动力电池行业规范条件》中明确涂布、辊压工序必须配备在线检测设备。非接触式测厚仪就是这样一种仪器。非接触式测厚仪在使用过程中不用担心它会损坏产品，对人体也是无辐射的，应用范围也很广泛，近年来在市场上很受各大厂家的欢迎。非接触式测厚仪的种类以及应用也有很多的不同，下面大成精密技术人员就介绍一下常用的非接触式测厚仪原理以及应用：X/β面密度测量仪特色及优势介绍1、测量原理：当射线作用于锂电极片后，射线将会被极片吸收、反射、散射，从而导致透射极片后的射线强度相对入射射线强度有一定的衰减，其衰减比例与极片的重量或面密度成负指数关系。2、典型应用：应用于锂电涂布工序时，可放置于烘箱后、收卷前，测量烘干后极片的面密度。也可放置于涂布机放卷后、涂布头前，测量基材的面密度。

基体包含铁基和铝基，铁基是测试金属表面涂层的磁性测厚仪，铝基是测非金属表面涂层的涡流测厚仪，可以考虑东儒DR380是铁铝两用的。

镀层测量要求精度非常高，手持无损测量需要用高精度的涂层测厚仪，市场上的涂层测厚仪良莠不齐，价格相差也非常大，不过市场上只有几家能测镀层的，比如菲希尔的FMP10—FMP40 系列（MPO精度差），德国EPK高精度涂层测厚仪MiniTest 7400系列，还有牛津高端的，这些高精度的涂层测厚仪都是分体的，主机和探头通过连接线链接一起，可以避免主机的电磁场干扰探头和探头之间相互干扰，不过这样的仪器价格较贵，都在2万以上。国产里面有一家中科朴道的PD-CT2涂层测厚仪，这款测厚仪精度非常高，1%误差，几乎达到上面进口高端镀层测厚的误差，我们现在就是用的这款，PD-CT2 PLUS可以测镀锌克重，实惠。这些测厚仪也能测油漆，不过大材小用。

你可以看看涂层测厚仪怎么使用涂层测厚仪有很多种的，用法也不一样，北京时代海创生产的HC-625涂层测厚仪使用很简单，HC-625便携式涂层测厚仪特点：采用磁感应测量方法符合国家标准GB4956和国际标准IS02178,它的电路设计引入新技术，高精度、可靠性高、稳定性好、反应灵敏、功耗低、操作方便、支持一点和多点校准、单探头两用测量、体积小、重量轻；且其性能达到当代国际涂层测厚仪的先进水平，能够无损的进行涂层、镀层厚度的测量。能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护专业必备的仪器。既可用于实验室，也可用于工程现场。高精度涂层采用了磁感应和涡流两种测厚方法：磁感应方法可用来精确测量所有磁性基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)表面上非磁性涂镀层，例如：油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，合成材料，包括各种有色金属铬、锌、铅、铝、锡、镉电镀层或磷化层，瓷，珐琅，氧化层等。以及化工石油作业的各种防腐涂层。涡流方法用来测量非磁性金属(如铜、铝、锌、锡、不锈钢等)上的非导电涂层的厚度(如:油漆、防腐层、橡胶、氧化膜、塑料等)。参考资料：涂层测厚仪www.nbecon.com。

HG/T 3240-1987 搪瓷测厚仪技术条件HG/T 3240-2007 电脑膜层测厚仪HG/T 3241-1989 内孔涂层测厚仪技术条件HG/T 3241-2007 电脑内孔膜层测厚仪JJF 1126-2004 超声波测厚仪校准规范JJG （轻工） 87-1992 便携式地毯测厚仪检定规程JJG 403-1986 超声波测厚仪JJG 480-1987 X射线测厚仪检定规程JJG 818-1993 电涡流式测厚仪（试行）JJG 889-1995 磁阻法测厚仪NJ 372-1985 轮辋用测厚仪ZB N 13003-1987 搪瓷测厚仪技术条件ZB N 77001-1989超声测厚仪通用技术条件

一、无损检测是一个非常广泛的测试领域，简单的讲就是通过声（如超声波探伤仪、超声波测厚仪），光（X射线测厚仪），磁（磁粉探伤仪、铁素体测试仪、铁素体含量检测仪）以及电（涡流测厚仪）等在不损害或者不影响被检测对象使用性的前提下检测被测对象的内外缺陷或者不匀称性，给出定性或者定量测量结果。二、开设无损检测专业的高等院校共有十五所源自: 魏同锋 448 1、西安工程大学(本科)2、南昌航空大学(本科)3、武汉大学(本科、硕士研究生和博士研究)4、大连理工大学(本科、硕士研究生)5、南京航空航天大学(本科)6、辽宁石油化工大学(本科)7、中北大学(本科、硕士研究生和博士研究生)8、哈尔滨工业大学(本科)9、渤海船舶职业技术学院(大专)10、中国石油管道学院(原河北石油职业技术学院)(大专)11、长沙航空航天职业技术学院(大专)12、天津海运职业学院(大专)13、苏州大学(本科)14、江苏省徐州技师学院(大专)15、湖南省技师学院(湖南省劳动高级技工学校) (大专、中专)

测厚仪(磁性法和涡流法)一般是 0-1250um，超声波测厚仪一般是1.2-300mm。测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。

　现在市场上的封箱胶带产品要检测的项目只有粘和模的厚度。其实封箱胶带的粘主要有三个指标组成就是其初粘，持粘，和剥离强度。这也是国家标准对于封箱胶带或者不干胶类产品粘测试所规定的基本三项。对应的仪器叫初粘测试仪、持粘测试仪和电子剥离试验机（拉力试验机）。也可根据自身的需要选择对应的封箱胶带检测仪器。

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。测量注意事项：⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

u200du200d采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。u200du200d

涂层测厚仪是一种用于测量样品表面涂层或薄膜厚度的设备，具体测量方法有以下几种：磁性测厚法：适用于导磁材料上的非导磁涂层厚度测量，如钢铁、铜、铝等金属材料上的涂层或薄膜厚度。测量原理是利用磁性传感器测量样品表面磁场的变化，从而确定涂层或薄膜的厚度。涡流测厚法：适用于导电金属上的非导电涂层厚度测量，如铝、铜等金属材料上的涂层或薄膜厚度。测量原理是利用涡流传感器产生涡流，通过测量涡流与样品表面涂层或薄膜的相互作用来计算涂层或薄膜的厚度。超声波测厚法：适用于多层涂镀层厚度的测量。测量原理是利用超声波在样品表面涂层或薄膜中的反射和传播特性，通过测量超声波的反射时间和传播速度来确定涂层或薄膜的厚度。X射线荧光测厚法：适用于金属材料上的镀层厚度测量。测量原理是利用X射线荧光原理，通过测量样品表面镀层对X射线的荧光反应来计算镀层的厚度。电化学测厚法：适用于金属材料上的涂层厚度测量，如镀锌、镀铬等。测量原理是利用电解或电化学方法，通过测量涂层与金属基体的电极反应来确定涂层的厚度。光学测厚法：适用于透明材料或反射率较高的非金属材料的厚度测量，如玻璃、塑料等。测量原理是利用光学干涉或反射原理，通过测量光线在样品表面涂层或薄膜中的干涉和反射特性来确定涂层或薄膜的厚度。以上是涂层测厚仪常见的几种测量方法，根据不同的应用需求和材料特点，需要选择合适的测量方法和仪器进行涂层厚度的测量。

测厚仪（thickness gauge ）是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。测厚仪根据其测试原理不同有激光测厚仪、超声波测厚仪、涂层测厚仪、X射线测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪等等。基本上每个测厚仪设备的使用方法和原理都不一样。以深圳大成精密设备为例，他们在公司现场调试人员将设备调试完毕后，可以对客户方工艺人员、设备人员、生产人员等进行培训。 主要培训的内容有：设备原理、设备电气部分、设备机械部分和设备软件部分，通过对设备原理的讲解，提高员工对设备原理的认识，方便日后使用与维修。 大成精密设备生产的测厚仪可广泛用于生产线上对各种材料的厚度、宽度、轮廓的实时测量, 具有非接触测量、不损伤物体表面、无环境污染、抗干扰能力强、精度高、数据采集、处理功能全等特点, 是我国工业生产线产品质量控制的重要设备。 深圳市大成精密设备有限公司是一家集研发、制造、销售、服务于一体的国内领先的新能源设备生产企业。2016年荣获“国家级高新技术企业”称号。公司专注于锂电池极片面密度及厚度的在线无损检测，主要产品有β射线面密度测量仪、X射线面密度测量仪、高精度激光测厚仪等。目前在国内锂电池极片检测市场份额占比超过60%，已与ATL、BYD等锂电一线企业保持长期深度合作关系。

涂层测厚仪型号：TM-2500。涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体（如钢、铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性涂层的厚度（如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等） 及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。选型方法用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪，磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米，这类仪器又分探头与主机一体型，探头与主机分离型，前者操作便捷，后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测，测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金，银等金属的厚度。

该标准规定了使用涡流仪无损测量非金属基体上非导电覆盖层的方法。铝合金氧化后进行粉末喷涂，符合这一标准规定的测量范围内。这也是对非金属涂层的无损厚度溅量的唯一方法。为了测得喷涂膜的较为精确的厚度，应分二步测试，第一步先测试氧化膜的厚度(标准同样适用)；第二步在喷涂膜层上测试，所得结果为氧化膜(厚度)+喷涂膜(厚度)的两层总厚度，再用总厚度减去氧化膜厚度，就得到喷涂膜的实际厚度。涡流测厚仪，同样是一种普通测厚仪。外形、尺寸和磁性测厚仪无大区别，所以选购时一定要分辨清楚。

涡流测厚仪是一种小型便携式仪器。用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。涡流测厚仪是一种小型便携式仪器。 重现性好、经济耐用，符合国家标准GB/T4957，多次通过国家技术监督部门的性能试验，获得计量器具制造许可证。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。仪器的标准物质—膜厚校准箔片，由辽宁省计量院检测，附有辽宁省计量院出具的检测报告。仪器在国内铝型材、铝门窗、技术监督、工程质检等行业得到广泛应用，得到用户的信任与好评。应用范围：涡流测厚仪，用于检测各种非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。例如：铝型材、铝板、铝管、铝塑板、铝工件表面的阳极氧化层或涂层。仪器适于在生产现场、销售现场或施工现场对产品进行快速无损的膜厚检查。可用于生产检验、验收检验和质量监督检验。膜厚校正片：膜厚校正片是仪器的计量基准。本仪器的膜厚校正片全部经过技术监督部门的检测，附有检测报告。这一点在国内外仪器中都是不多见的。它保证了仪器计量的准确性和可靠性。探头：测厚仪最容易损坏的部件是探头，本仪器对探头做了特殊的耐久性设计，具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。

涡流法是根据涡流原理测量导电基体上的非导电涂层的厚度，其测量数值受以下一些因素的影响：a基体金属电性质基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。b基体金属厚度每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。c边缘效应本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。d曲率试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。e试件的变形 测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上不能测出可靠的数据。f表面粗糙度基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。g磁场周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。h附着物质本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。i探头压力测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。j)探头的取向测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。如果您能排除了以上原因之后数据仍然偏差较大，还有可能是涂层本身的厚度是不均匀的（涂装工艺造成），另外就是仪器质量问题了。

镀锌层测厚仪是涂层测厚仪的一种。常规涂层测厚仪分磁感应和涡流两种，高频涡流是另外一种高度的涂层测厚，价格很高。磁感应测厚仪，探头发出磁场，可以在磁性材料上形成磁性，非磁性涂层的大小，会影响这个磁性的大小，从而测量出对应的涂层厚度。涡流测厚仪，探头发出电涡流信号，可以在导电材料上形成涡流，非导电涂层的厚薄，会影响这个涡流场的大小，从而计算出对应的涂层厚度。这两种方法的价格差不多，涡流法稍高一点（一般10%左右）。磁性涂层测厚仪用量比涡流的大很多，凭直觉在10倍以上。

一． 磁吸力测量原理及测厚仪永久磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系，这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪，只要覆层与基材的导磁率之差足够大，就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型，所以磁性测厚仪应用最广。测厚仪基本结构由磁钢，接力簧，标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后，将测量簧在其后逐渐拉长，拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力，磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源，测量前无须校准，价格也较低，很适合车间做现场质量控制。二． 磁感应测量原理采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。三． 电涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较，主要区别是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了分辨率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。采用电涡流原理的测厚仪，原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍（如铜上镀铬）。虽然钢铁基体亦为导电体，但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适。

常用测厚仪有机械式测量、超声波测厚仪、磁式测厚仪、电容式测厚仪、涡流测厚仪、射线测厚仪、激光测厚仪等。那么这些测厚仪的优缺点是什么？下面小编就来简单的介绍一下测厚仪优缺点：机械式测量，大部分机械式测厚仪都是接触式测量，其主要优点是操作简单、方便，仪器成本低，测量范围大。缺点是精度低，对被测物有一定损坏，不易实现动态测量。超声波测厚仪，其主要优点是测量操作简单，体积小、重量轻、携带方便。缺点是对检测样式种类具有选择性，不易实现厚度自动测量和高温环境下的实时检测且精度不高，测量为接触式测量，对被测物有损伤。磁式测厚仪，主要优点是重量轻，便于携带，灵敏度较高，有较宽的测量范围且操作简单。缺点是各干扰因素容易对磁式测厚仪的测量产生影响，且应用范围比较小。电容式测厚仪：其主要优点是测量速度快，操作方便，可用于多种被测物测量。缺点是接触式测量，易损坏被测物，且测量容易受到外电磁场干扰，引线电容及杂散电容影响较大，同时它对被测物表面的平整性、测头和被测物接触式的保持具有较高的要求。涡流式测厚仪：其主要优点是快捷精准、非接触式测量，不仅可以测量管材、板材等单层厚度，还可测量镀层、涂层和多层复合材料分层的厚度，测量不受被测物物理特性影响，稳定可靠。缺点是离样品近，易破坏样品，测量面积大，对一部分物体失效。

测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，目的是降低板厚的滞后调整时间。⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。⒎在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。产品应用：1、激光测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，沧州欧谱从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。3、纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。4、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。5、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.6、超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。扬州市源峰试验机械厂是专业从事材料试验研究与材料试验机制造的企业，是国内较大的材料试验机制造商。公司产品手提橡塑测厚仪，可随身携带，手持测量，适用于车间现场测定。

薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要。薄膜的厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。目前测量薄膜的厚度的方法有在线测厚和非在线测厚在线测厚较为常见的在线测厚技术有β射线技术，X射线技术和近红外技术。β射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术。在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但β传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。X射线技术这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量多种元素构成的聚合物，信号源发射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。近红外技术近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信号源无放射性，设备维护难度相对较低。非在线测厚非在线测厚技术主要有一触式测量法和非接触式测量法两类，接触式测量法主要是机械测量法，非接触式测量法包括光学测量法，电涡流测量法、超声波测量法等。由于非在线测厚仪设备价格便宜、体积小等原因，应用领域广阔。涡流测厚仪和磁性测厚仪涡流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和电磁感应原理。专用于各种特定涂层厚度的测量，用于测量薄膜、纸张的厚度时有出现误差的可能。超声波厚度仪超声波厚度仪也多是小型便携带设备，利用超声波反射原理，可测金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波良导体的厚度。可在高温下工作，这是很多其它类型的测厚仪所不具备的，但对检测试样的种类具有选择性。光学测厚仪从测量原理上来说光学测厚仪可达到极高的测试精度，但是这类测厚仪在使用及维护上要求极高；必须远离振源；严格防尘；专业操作及维护等。使用范围较窄，仅适用于复合层数较少的复合膜。机械测厚仪机械测厚仪可以分为点接触式和面接触式两类，是一种接触式测厚方法，它与非接触式测量方法有着本质的区别——能够在进行厚度测量前给试样测量表面施加一定的压力（点接触力或面接触力），这样可以避免在使用非接触式测厚仪测量那些具有一定压缩力、表面高低不平的材料时可能出现数据波动较大的现象。所以具体要选择哪一类测厚仪设备还需根据软包装材料的种类，厂家对厚度均匀性的要求、以及设备的测试范围等因素而定。本答案源于PP论坛

测厚仪，英文名称为thicknessgauge，是一类用来测量材料及物体厚度的仪表，在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度。测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。有以下几个分类：激光测厚仪：此类测厚仪是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。X射线测厚仪：此类测厚仪利用的是当X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关联的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。超声波测厚仪：这种测厚仪是根据超声波脉冲反射的原理来对物体厚度进行测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲会发生反射而返回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间，来计算被测材料的厚度。涂层测厚仪：主要采用的是电磁感应法来测量涂层的厚度。涂层测厚仪会在部件表面的探头处产生一个闭合的磁回路，伴随着探头与铁磁性材料之间距离的变化，该磁回路将会发生不同程度的改变，因此会引起磁阻及探头线圈电感的变化。

薄膜厚度是否均匀一致是检测薄膜各项性能的基础。很显然，倘若一批单层薄膜厚度不均匀，不但影响到薄膜各处的拉伸强度、阻隔性等，更会影响薄膜的后续加工。对于复合薄膜，厚度的均匀性更加重要。薄膜的厚度测量是薄膜制造业的基础检测项目之一。目前测量薄膜的厚度的方法有在线测厚和非在线测厚在线测厚较为常见的在线测厚技术有β射线技术，X射线技术和近红外技术。β射线技术是最先应用于在线测厚技术上的射线技术。在上世纪60年代就已经广泛用于超薄薄膜的在线厚度测量了。它对于测量物没有要求，但β传感器对温度和大气压的变化、以及薄膜上下波动敏感，设备对于辐射保护装置要求很高，而且信号源更换费用昂贵，Pm147源可以用5-6年，Kr85源可用10年，更换费用均在6000美元左右。X射线技术这种技术极少为塑料薄膜生产线所采用。X光管寿命短，更换费用昂贵，一般可用2-3年，更换费用在5000美元左右，而且不适用于测量多种元素构成的聚合物，信号源发射性强。X射线技术常用于钢板等单一元素的测量。近红外技术近红外技术在在线测厚领域的应用曾受到条纹干涉现象的影响，但现在近红外技术已经突破了条纹干涉现象对于超薄薄膜厚度测量的限制，完全可以进行多层薄膜总厚度的测量，并且由于红外技术自身的特点，还可以在测量复合薄膜总厚度的同时给出每一层材料的厚度。近红外技术可用于双向拉伸薄膜、流延膜和多层共挤薄膜，信号源无放射性，设备维护难度相对较低。非在线测厚非在线测厚技术主要有一触式测量法和非接触式测量法两类，接触式测量法主要是机械测量法，非接触式测量法包括光学测量法，电涡流测量法、超声波测量法等。由于非在线测厚仪设备价格便宜、体积小等原因，应用领域广阔。涡流测厚仪和磁性测厚仪涡流测厚仪和磁性测厚仪一般都是小型便携式设备，分别利用了电涡流原理和电磁感应原理。专用于各种特定涂层厚度的测量，用于测量薄膜、纸张的厚度时有出现误差的可能。超声波厚度仪超声波厚度仪也多是小型便携带设备，利用超声波反射原理，可测金属、塑料、陶瓷、玻璃及其它任何超声波良导体的厚度。可在高温下工作，这是很多其它类型的测厚仪所不具备的，但对检测试样的种类具有选择性。光学测厚仪从测量原理上来说光学测厚仪可达到极高的测试精度，但是这类测厚仪在使用及维护上要求极高；必须远离振源；严格防尘；专业操作及维护等。使用范围较窄，仅适用于复合层数较少的复合膜。机械测厚仪机械测厚仪可以分为点接触式和面接触式两类，是一种接触式测厚方法，它与非接触式测量方法有着本质的区别——能够在进行厚度测量前给试样测量表面施加一定的压力（点接触力或面接触力），这样可以避免在使用非接触式测厚仪测量那些具有一定压缩力、表面高低不平的材料时可能出现数据波动较大的现象。所以具体要选择哪一类测厚仪设备还需根据软包装材料的种类，厂家对厚度均匀性的要求、以及设备的测试范围等因素而定。本答案源于PP论坛

测厚仪是一种用于测量样品表面涂层或薄膜厚度的设备，具体测量方法有以下几种：磁性测厚法：适用于导磁材料上的非导磁涂层厚度测量，如钢铁、铜、铝等金属材料上的涂层或薄膜厚度。测量原理是利用磁性传感器测量样品表面磁场的变化，从而确定涂层或薄膜的厚度。涡流测厚法：适用于导电金属上的非导电涂层厚度测量，如铝、铜等金属材料上的涂层或薄膜厚度。测量原理是利用涡流传感器产生涡流，通过测量涡流与样品表面涂层或薄膜的相互作用来计算涂层或薄膜的厚度。超声波测厚法：适用于多层涂镀层厚度的测量。测量原理是利用超声波在样品表面涂层或薄膜中的反射和传播特性，通过测量超声波的反射时间和传播速度来确定涂层或薄膜的厚度。X射线荧光测厚法：适用于金属材料上的镀层厚度测量。测量原理是利用X射线荧光原理，通过测量样品表面镀层对X射线的荧光反应来计算镀层的厚度。电化学测厚法：适用于金属材料上的涂层厚度测量，如镀锌、镀铬等。测量原理是利用电解或电化学方法，通过测量涂层与金属基体的电极反应来确定涂层的厚度。光学测厚法：适用于透明材料或反射率较高的非金属材料的厚度测量，如玻璃、塑料等。测量原理是利用光学干涉或反射原理，通过测量光线在样品表面涂层或薄膜中的干涉和反射特性来确定涂层或薄膜的厚度。以上是涂层测厚仪常见的几种测量方法，根据不同的应用需求和材料特点，需要选择合适的测量方法和仪器进行涂层厚度的测量。

是指电涡流测厚仪吧，这种测厚仪的原理为：高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。测头离导电基体越近，则涡流越大，发射阻抗也越大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电涂层厚度的大小。

有一种X光射线的测厚仪德国Compact eco X-射线荧光分析测厚仪 Compact eco X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任. 轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选. 备有Compact eco , Compact 5 , Mixx4 , Mixx5等型号选择，可测量各类金属层、合金层厚度，附带功能：合金成份分析，电镀液成份分析，中文简体、繁体、英文操作系统。 可测元素范围： 钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围： 原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm 自动测量功能：编程测量，自定测量 修正测量功能：底材修正，已知样品修正 定性分析功能：光谱表示，光谱比较 定量分析功能：合金成份分析 数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.完全超越其他品牌的所谓FP软件. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质. 韩国Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪 Micro Pioneer XRF-2000 系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的首选.可测量各类金属层、合金层厚度. 可测元素范围： 钛(Ti) – 铀(U) 可测量厚度范围： 原子序22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射线管：油冷,超微细对焦 高压：0-50KV(程控) 准直器： 固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 电脑系统：IBM相容,17”显示器 综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层. 镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液. 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

涂层测厚仪是一种用于测量涂层或覆盖层厚度的仪器，其测量区间范围根据不同的型号和用途可能会有所不同。以下是一些常见的涂层测厚仪的测量区间范围：微米级别：一些涂层测厚仪可以测量厚度在微米级别内的涂层或覆盖层，如一些光学测厚仪或电涡流测厚仪。这些仪器通常用于测量较薄的涂层或覆盖层，如油漆、塑料涂层或金属镀层等。毫米级别：另一些涂层测厚仪可以测量厚度在毫米级别内的涂层或覆盖层，如一些射线测厚仪或机械测厚仪。这些仪器通常用于测量较厚的涂层或覆盖层，如钢板、塑料板或纸张等。厘米级别：还有一些涂层测厚仪可以测量厚度在厘米级别内的涂层或覆盖层，如一些超声波测厚仪或磁性测厚仪。这些仪器通常用于测量大型物体的涂层厚度，如管道、墙壁或大型结构件等。需要注意的是，不同的涂层测厚仪其测量区间范围可能会有所不同，具体的测量区间范围需要根据仪器型号和用途来确定。在选择涂层测厚仪时，需要根据被测样品和测量需求来选择合适的仪器型号和测量方法。