椭偏仪

没有直接比较过。 但是我见过所有的实验室都有用 HORIBA 的光谱仪，国内国外很多高校，我觉得这个公司应该是很牛的，推荐后者。

在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用。因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一。

楼上两位都不正确，但是一楼实在错的离谱。等幅椭偏光是P分量与S分量的振幅相等的情况。书上就说此处振幅相等的P分量与S分量合成的光是等幅椭偏光。但不能因为P与S分量振幅垂直且相等就认为其是圆偏振光，这是因为入射光的偏振态是由P分量与S分量的振幅比以及相位差决定的。

在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用。因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一。

椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率 在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用。因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一。椭偏法测量具有如下特...3391

可以。可以利用椭偏仪对柔性基底上氧化铝薄膜的厚度及折射率进行测量。椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。

下图给出了椭偏仪的基本光学物理结构。已知入射光的偏振态，偏振光在样品表面被反射，测量得到反射光偏振态（幅度和相位），计算或拟合出材料的属性。入射光束（线偏振光）的电场可以在两个垂直平面上分解为矢量元。P平面包含入射光和出射光，s平面则是与这个平面垂直。类似的，反射光或透射光是典型的椭圆偏振光，因此仪器被称为椭偏仪。关于偏振光的详细描述可以参考其他文献。在物理学上，偏振态的变化可以用复数ρ来表示：其中，ψ和u2206分别描述反射光p波与s波振幅衰减比和相位差。P平面和s平面上的Fresnel反射系数分别用复函数rp和rs来表示。rp和rs的数学表达式可以用Maxwell方程在不同材料边界上的电磁辐射推到得到。其中u03d50是入射角，u03d51是折射角。入射角为入射光束和待研究表面法线的夹角。通常椭偏仪的入射角范围是45°到90°。这样在探测材料属性时可以提供最佳的灵敏度。每层介质的折射率可以用下面的复函数表示通常n称为折射率，k称为消光系数。这两个系数用来描述入射光如何与材料相互作用。它们被称为光学常数。实际上，尽管这个值是随着波长、温度等参数变化而变化的。当代测样品周围介质是空气或真空的时候，N0的值通常取1.000。通常椭偏仪测量作为波长和入射角函数的ρ的值（经常以ψ和u2206或相关的量表示）。一次测量完成以后，所得的数据用来分析得到光学常数，膜层厚度，以及其他感兴趣的参数值。如下图所示，分析的过程包含很多步骤。可以用一个模型（model）来描述测量的样品，这个模型包含了每个材料的多个平面，包括基底。在测量的光谱范围内，用厚度和光学常数（n和k）来描述每一个层，对未知的参数先做一个初始假定。最简单的模型是一个均匀的大块固体，表面没有粗糙和氧化。这种情况下，折射率的复函数直接表示为：但实际应用中大多数材料都是粗糙或有氧化的表面，因此上述函数式常常不能应用。图中的下一步，利用模型来生成Gen.Data，由模型确定的参数生成Psi和Detla数据，并与测量得到的数据进行比较，不断修正模型中的参数使得生成的数据与测量得到的数据尽量一致。即使在一个大的基底上只有一层薄膜，理论上对这个模型的代数方程描述也是非常复杂的。因此通常不能对光学常数、厚度等给出类似上面方程一样的数学描述，这样的问题，通常被称作是反演问题。最通常的解决椭偏仪反演问题的方法就是在衰减分析中，应用Levenberg-Marquardt算法。利用比较方程，将实验所得到的数据和模型生成的数据比较。通常，定义均方误差为：在有些情况下，最小的MSE可能产生非物理或非唯一的结果。但是加入符合物理定律的限制或判断后，还是可以得到很好的结果。衰减分析已经在椭偏仪分析中收到成功的应用，结果是可信的、符合物理定律的、精确可靠。

中科院苏州纳米技术与纳米仿生研究所，260元/小时，半小时为收费单位

这需要看材料

是的。mse反映测量值和理论值的接近程度。

没有你说的这个值呀，你说的是不是这个值：复数ρ

半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、自组装单分子层、多层膜物质和石墨烯等等

样品应为均匀透明各向同性的薄膜系统，反射率较高一点，以便于增强反射光的强度，而且薄厚均匀透明，从而利于实验的进行和精度要求。

消除由于仪器本身带来的角度误差

椭偏仪有多个领域运用，其中光谱型椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。常见领域有半导体、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科研、生物、医药… 来自：求助得到的回答

我只有一本关于椭偏原理的书，关于如何测量折射率，这要看生产厂家提没提供这项功能，你用的是谁家的机台？我说一种方法吧，如果是光谱式的话，需要测量折射率的那一膜层可以用柯西色散模式建模型，这样可以将每一波长对应的折射率以及K值求出来。所以我想问下你用的是哪一家的

Ellipse leaning meter

1.二者原理不同:椭偏仪：通过测量光波经样品反射后偏振态的变化来获得样品的信，可测量膜层厚度d、折射率n和消光系数k，或者直接测量固相材料的折射率n和消光系数k。反射式膜厚测量仪：一般是利用白光干涉的原理，通过测量光波经样品反射后幅值（或者说光强）的变化来获得膜层的厚度d、折射率n和消光系数k信息。2.二者适用范围不同：椭偏仪适合：厚度为0.1nm到几微米的薄膜测量，其厚度测量精度可达到原子层量级，即0.1nm以下。反射式膜厚测量仪适合：厚度为50纳米到几十微米的稍后些的薄膜，其厚度测量精度为1nm以上。

可以的~

椭偏仪的全球市场规模在2013年为4086万美元，销售量为1018台椭偏仪；据预测，2023年市场规模将达到8582万美元，销售量为2844台。椭偏仪行业已经发展成熟且高度集中。有几个主要品牌，分布在美国，欧盟，印度和中国。椭偏仪的市场需求在过去五年中相对较强，波动较窄。全球范围内，J.A.Woollam，Horiba，Semilab，Sentech，Angstrom Sun Technologies等都是顶级企业。这些制造商在全球市场中发挥重要作用。在中国，市场也主导了Ellitop-Products，它拥有10年的专业生产历史。美国，日本，欧洲和中国是主要消费者，占据超过88％的份额。未来，新兴市场将推动市场需求，特别是在中国，印度，东南亚。这些地区的基础设施需要进一步发展，具有巨大的潜力。未来，市场将更具竞争力，市场集中度将更高，更多制造商将通过并购扩大，小型制造商将逐步筛选出来，尤其是激光椭偏仪生产商。更多资源参考QYResearch发表的椭偏仪资讯和椭偏仪行业研究报告资料。

激光椭偏仪采用极窄带宽的激光器作为光源，在单波长下对纳米薄膜样品进行表面和界面的表征。激光椭偏仪作为常规的纳米薄膜测量工具,与光谱椭偏仪相比，具有如下特点：1.对材料的光学常数的测量更精确：这是由激光的窄带单色性质决定的，激光带宽通常远小于1nm，因此能够更准确地获得激光波长下的材料的材料参数。2.可对动态过程进行快速测量：激光良好的方向性使得其强度非常高，因此非常适合对动态过程的实时测量。

成像椭圆偏振技术正在引起越来越多的兴趣。研究人员发现利用成像椭偏技术可实现超小块薄膜分析、原位椭偏测量、各种液体环境下的椭偏分析并且可以实现和多种技术联用，如布鲁斯特角显微镜、表面等离子共振、原子力显微镜、石英晶体微天平、LB槽、反射光谱仪、太赫兹光谱仪以及拉曼光谱仪等等。这些新特点拓展了椭偏仪的应用领域。这椭偏技术带来了新的研究热点的同时也给该技术带来了挑战，例如在非稳定液体表面的薄膜的测量和显微成像等。

今天易测量后模式为什么不采用多点测量？因为多点测量的话，它并不是一个进去到啊细微的地方，所以它尽量用一些罗测一测模量。

是一个曲线，横坐标是波长，纵坐标是折射率。材料对不同波长光的折射率是不同的。

椭偏仪 全自动光谱椭偏仪 成像椭偏仪（成像椭圆偏振技术）激光单波长椭偏仪……

负折射率可以用椭偏仪测。椭偏仪是一种可以根据椭偏光法测量薄膜样品的厚度和折射率的仪器，负折射率也属于其可测量范围内。所以负折射率可以用椭偏仪测。

在现代科学技术中，薄膜有着广泛的应用。因此测量薄膜的技术也有了很大的发展，椭偏法就是70年代以来随着电子计算机的广泛应用而发展起来的目前已有的测量薄膜的最精确的方法之一。椭偏法测量具有如下特点：1.能测量很薄的膜（1nm），且精度很高，比干涉法高1-2个数量级。2.是一种无损测量，不必特别制备样品，也不损坏样品，比其它精密方法：如称重法、定量化学分析法简便。3.可同时测量膜的厚度、折射率以及吸收系数。因此可以作为分析工具使用。4.对一些表面结构、表面过程和表面反应相当敏感。是研究表面物理的一种方法。

椭偏仪12是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。

在光谱椭偏仪的测量中使用不同的硬件配置，但每种配置都必须能产生已知偏振态的光束。测量由被测样品反射后光的偏振态。这要求仪器能够量化偏振态的变化量ρ。有些仪器测量ρ是通过旋转确定初始偏振光状态的偏振片（称为起偏器）。再利用第二个固定位置的偏振片（称为检偏器）来测得输出光束的偏振态。另外一些仪器是固定起偏器和检偏器，而在中间部分调制偏振光的状态，如利用声光晶体等，最终得到输出光束的偏振态。这些不同的配置的最终结果都是测量作为波长和入射角复函数ρ。在选则合适的椭偏仪的时候，光谱范围和测量速度也是一个通常需要考虑的重要因素。可选的光谱范围从深紫外的142nm到红外的33microm。光谱范围的选择通常由应用决定。不同的光谱范围能够提供关于材料的不同信息，合适的仪器必须和所要测量的光谱范围匹配。测量速度通常由所选择的分光仪器（用来分开波长）来决定。单色仪用来选择单一的、窄带的波长，通过移动单色仪内的光学设备（一般由计算机控制），单色仪可以选择感兴趣的波长。这种方式波长比较准确，但速度比较慢，因为每次只能测试一个波长。如果单色仪放置在样品前，有一个优点是明显减少了到达样品的入射光的量（避免了感光材料的改变）。另外一种测量的方式是同时测量整个光谱范围，将复合光束的波长展开，利用探测器阵列来检测各个不同的波长信号。在需要快速测量的时候，通常是用这种方式。傅立叶变换分光计也能同时测量整个光谱，但通常只需一个探测器，而不用阵列，这种方法在红外光谱范围应用最为广泛。

椭偏仪1是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。由于厚度和折光率测量精度高，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。利用椭偏仪来测量薄膜的过程就是椭偏仪测量。

好找工作。软件测试、软件工程师等等都需要会椭偏仪，岗位需求量大。所以椭偏仪好找工作。椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。

题主是否想询问“椭偏仪金属薄膜测不准原因”？纳米级金属材料折射率受尺寸影响。椭偏仪属非接触测量，利用光的偏振特性测量薄膜的厚度，其分辨率很高，椭偏仪金属薄膜测不准原因是纳米级金属材料折射率受尺寸影响，纳米级金属材料折射率受尺寸影响。

椭偏测量可取得薄膜的介电性质（复数折射率或介电常数）。它已被应用在许多不同的领域，从基础研究到工业应用，如半导体物理研究、微电子学和生物学。椭圆偏振是一个很敏感的薄膜性质测量技术，且具有非破坏性和非接触之优点。分析自样品反射之偏振光的改变，椭圆偏振技术可得到膜厚比探测光本身波长更短的薄膜资讯，小至一个单原子层，甚至更小。椭圆仪可测得复数折射率或介电函数张量，可以此获得基本的物理参数，并且这与各种样品的性质，包括形态、晶体质量、化学成分或导电性，有所关联。它常被用来鉴定单层或多层堆栈的薄膜厚度，可量测厚度由数埃（Angstrom）或数纳米到几微米皆有极佳的准确性。 半导体物理、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、表界面科学研究、物理、化学、生物、医药、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、各种液体薄膜、自组装单分子层、多层膜物质等等

系统设置问题。椭偏仪是一种用于检测薄膜厚度的光学测量仪器，中光增益越高测试精度越高的原因是系统设置问题。不同的硬件配置用于光谱椭偏仪的测量，但每种配置必须产生已知偏振的光束。

椭偏仪测折射率和薄膜厚度：通常表示设介质层为入射角的度数和折射范围的厚度。椭圆偏振光在样品表面反射后，偏振状态会发生变化，利用这一特性可以测量固体上介质薄膜的厚度和折射率。它具有测量范围宽：厚度可从10-10~10-6m量级、精度高可达百分之几单原子层、非破坏性、应用范围广：金属、半导体、绝缘体、超导体等固体薄膜等特点。目前商品化的全自动椭圆偏振光谱仪，利用动态光度法跟踪入射光波长和入射角改变时反射角和偏振状态的变化。

椭偏仪12是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。

外延厚度不是薄膜。外延厚度是指固体材料在衬底上生长的厚度，不是薄膜。椭偏仪是一种用于检测薄膜的厚度、光学常数和材料微观结构的光学测量设备。椭偏仪只能测量薄膜的光学常数，无法直接测量材料的物理厚度。所以椭偏仪不能测外延厚度，是因为外延厚度不是薄膜。使用椭偏仪注意事项：在使用时，遵循严格的安全操作规程，特别是在观察强烈的光源时要注意保护眼睛。

椭偏仪拟合度不匹配的原因包括仪器校准不准确、测量误差、数据处理方法不当或椭偏仪设备维护不良。1、仪器校准不准确：椭偏仪是一种高精度仪器，如果校准不准确，可能会导致拟合度不匹配。例如，如果仪器的偏差或零位不正确，则测量结果将偏离实际值。2、测量误差：在进行椭偏仪测量时，可能存在一些误差，例如仪器本身的误差、测量工具的误差等。这些误差可能会导致拟合度不匹配。3、数据处理方法不当：在使用椭偏仪进行测量时，需要采用适当的数据处理方法来得到准确的测量结果。如果处理方法不当，可能会导致拟合度不匹配。4、椭偏仪设备维护不良：椭偏仪需要定期维护和保养，以确保其测量精度和可靠性。如果设备维护不良，可能会导致测量结果不准确，从而导致拟合度不匹配。椭偏仪是一种用于测量物体表面形状的仪器，它通过测量光线的偏振方向和偏振角度来确定物体表面的曲率。椭偏仪通常由光源、偏振片、椭偏镜和接收器等组成。